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图12只考虑交流电压成分，U2为非门A输出电压的交流成分，U1为逻辑门B输出电压的交流成分。U3为“OUTPUT端”的交流成分，U4为分析时的一个过度量。
对图12进行分析，U2为U1的倒相信号，为了便于推导，设U2的幅值为U1的A倍，则
该电路对低频信号的削弱作用将不会减弱。同样是一阶RC滤波电路，该电路对低频信号的削弱作用则比没有抵消作用强。
但由于该网络接上非线性元件逻辑门后，逻辑门引入的阻抗会使抵消作用过渡成一阶滤波作用，为减弱逻辑门接入带来的影响，此时需将图中R1、R2、C1、C3增大，使两个逻辑门输出的信号少流入对方，从而维持式(11)。
由以上分析可知，在选择AOI检测仪器件时需保证C1=C3，R1=R2，并使其值尽量大。
为验证可调光源的控制效果，对二级光源系统进行了测试，分别在下午5点、6点和8点测试外界亮度和光源系统亮度，文中仅取其中的2块测试结果，如表2所示。模块1和模块12的亮度均可随着外界亮度的变化进行自动调节，而当外界亮度低于某一值时，光源系统亮度达到最大值，外界亮度再继续降低，光源系统亮度仍保持不变。
4 结束语
本文在分析较常用的硬件设备原理、性能的基础上，根据照明原理和光强传递函数，设计了二级光源照明系统。在系统中根据不同的缺陷检测对象而分别建立了相对应的5种照明模式，并在相对应的各种照明模式下对检测对象的图像进行采集，可得到最优图像质量，从而满足系统中各种元器件的采集图像要求。此外还着重讨论设计了采用二级光源系统及光源的控制电路，对于不同的缺陷可采用不同的照明方式，光源亮度可根据外部光亮的强弱自动调节，以满足系统检测要求。设计的控制电路中：(1)可通过光传感器自动调整光源控制器来控制光源的亮度，使光源的亮度保持一致;(2)共有16个亮度控制区域，该区域可按任意组合一同调节，也可相互独立进行调节。控制器可通过控制16个控制区域的亮度突出待测产品的缺陷部分或重要部分，以提高其的检测精度及检测效率。自适应选择照明模式将成为下一步研究工作的重点。
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